赵有文,男,博士,现任中国科学院半导体研究所研究员,博士生导师。
主要从事磷化铟、锑化镓等化合物单晶材料生长技术、材料缺陷和材料在光电子和微电子器件上应用的研究。
教育经历:
1996-08--1999-08 香港大学 理学博士
1986-09--1989-03 河北半导体研究所 工学硕士学位
1982-09--1986-07 兰州大学 理学学士学位
工作经历:
2000-03~2011-08,中国科学院半导体研究所, 研究员
1996-08~1999-08,香港大学, 理学博士
1989-03~1996-07,河北半导体研究所, 工程师
1986-09~1989-03,河北半导体研究所, 工学硕士学位
1982-09~1986-07,兰州大学, 理学学士学位
参与会议:
(1)C-H complex defects and their influnce in InAs single crystal 2017-10-08
讲授课程:
半导体材料
招生专业:
080501-材料物理与化学
招生方向:
化合物半导体单晶材料生长
缺陷与杂质
材料物理
研究生培养:
培养研究生数十名。
主要研究领域:
宽禁带半导体ZnO和AlN单晶材料生长、缺陷和物性研究;冶金法提纯多晶硅技术及应用开发;高效太阳电池用低位错Ge单晶生长与缺陷控制;大直径InAs单晶生长及材料性质。
承担科研项目情况:
( 1 ) 新型中长波红外探测器衬底GaSb和InAs单晶材料制备及应用, 主持, 市地级, 2018-03--2020-12
( 2 ) 面向红外探测应用的GaSb单晶杂质、缺陷及物性研究, 主持, 国家级, 2015-01--2018-12
( 3 ) 4-6英寸InP单晶VGF生长技术, 主持, 院级, 2017-03--2019-12
( 4 ) 高质量GaSb单晶衬底加工技术及红外探测应用, 主持, 市地级, 2017-08--2018-12
( 5 ) 磷化铟材料, 主持, 国家级, 2019-10--2022-09
( 6 ) 高纯磷化铟多晶制备技术及晶园衬底制备, 主持, 院级, 2020-01--2020-12
主要学术成绩:
通过实验研究揭示了原生磷化铟材料中氢-铟空位复合体缺陷的形成规律以及与材料电学补偿和热生缺陷的关系。通过研究和比较纯磷和磷化铁气氛下高温退火处理磷化铟材料后产生的深能级缺陷,发现了与退火过程中原子扩散有关的缺陷产生与抑制现象并给出了物理解释。在此基础上证明这些深能级缺陷大部分与铟空位有关。同时掌握了抑制深能级缺陷产生、制备高质量半绝缘磷化铟材料的物理机理和技术途径。对影响晶体完整性的因素进行了全面的分析研究,包括微缺陷的成因、结构位错的形成原因以及所产生的晶格畸变、点缺陷对晶格完整性的影响等。这些研究成果有效促地进了高质量磷化铟等材料单晶生长技术和单晶衬底制备技术的提高。
1 化合物半导体晶体生长用高纯石英器件研发及产业化 濮阳坤;赵有文;张尧;陶明顿;庞海涛;李爱霞 连云港福东正佑照明电器有限公司 2017
2 6英寸VGF法锗单晶片生产关键工艺技术研究 惠峰;李苏滨;柳廷龙;钟文;李雪峰;吕春富;董汝昆;肖祥江;赵有文;高永亮;董志远;赵燕;张丹;段鑫敏;李明宣 云南中科鑫圆晶体材料有限公司 2016
3 以冷坩埚技术为寄出的光伏级多晶硅工业试验 董志远;赵有文;杨俊;王俊;段满龙;杨凤云;霍佃鑫;胡雪松;刘彤;罗龙 包头市山晟新能源有限责任公司 2012
4 深紫外LED用AlGaN材料生长研究 王军喜;赵有文;刘喆;闫建昌;马平 中国科学院半导体研究所 2008
5 半导体光电功能材料磷化铟、氮化镓和氧化锌的特性研究 许小亮;赵有文;施朝淑 中国科学技术大学 2003
6 Ⅲ-Ⅴ族和Ⅱ-Ⅵ族半导体电学输运和发光特性的研究 许小亮;赵有文;施朝淑;刘洪图 中国科学技术大学 2003
制定标准:
1 太阳能电池用砷化镓单晶 被代替 GB/T 25075-2010 2026-08-25 国家标准
2 太阳能电池用砷化镓单晶及抛光片 现行 GB/T 35305-2026 2026-08-25 国家标准
3 LED外延芯片用砷化镓衬底 被代替 GB/T 30856-2014 2026-02-11 国家标准
4 LED外延芯片用砷化镓衬底 现行 GB/T 30856-2025 2026-02-11 国家标准
5 磷化铟多晶 现行 GB/T 36706-2018 2019-07-17 国家标准
6 LED外延芯片用磷化镓衬底 现行 GB/T 30855-2014 2015-04-30 国家标准
7 LED外延芯片用砷化镓衬底 现行 GB/T 30856-2014 2015-04-30 国家标准
8 太阳能电池用砷化镓单晶 GB/T 25075-2010 2012-03-13 国家标准
9 化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法 现行 GB/T 26070-2010 2012-03-13 国家标准
发明公开:
[1]范江涛, 卢伟, 沈桂英, 赵有文, 刘刚, 李晨慧, 杨文文, 吕鑫雨, 摆易寒. 锑化铝单晶生长方法[P]. 北京市: CN120925063A, 2025-11-11.
[2]摆易寒, 沈桂英, 赵有文, 谢辉, 卢伟, 李晨慧, 杨文文, 吕鑫雨, 范江涛. 磷化铟单晶的制备方法以及磷化铟单晶[P]. 北京市: CN119776991A, 2025-04-08.
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[5]刘丽杰, 赵有文, 王俊, 王应利, 杨俊, 卢伟, 刘京明, 卢超, 谢辉. 对砷化铟中III族铟和V族砷氧化物的检验方法及定量方法[P]. 北京市: CN116380959A, 2023-07-04.
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发明授权:
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荣誉奖励:
(1) 磷化铟单晶缺陷, 二等奖, 省级, 2010
(2) InP和ZnO材料缺陷研究, 一等奖, 部委级, 2003
(3) 化合物半导体InP, 二等奖, 国家级, 2002
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