技术简介：
序号 名称 用途
1 大地电导率连续成像系统 检测地表到1000m深度以下的地质资源环境
2 高密度电阻率成像系统 检测地表到300m深度以下的地质资源环境
3 综合地质分析系统 地质信息及检测数据分析
利用以上专用探测技术及分析手段对矿山地质资源及环境进行探测和分析评价。
技术来源：
单位名称：北京科技大学
地 址：北京市海淀区学院路30号
联 系 人：谭卓英
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